Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ
| dc.contributor.author | Ленков, С.В. | |
| dc.contributor.author | Фишер, З.А. | |
| dc.contributor.author | Зубарев, В.В. | |
| dc.date.accessioned | 2018-07-14T15:42:44Z | |
| dc.date.available | 2018-07-14T15:42:44Z | |
| dc.date.issued | 1998 | |
| dc.description.abstract | Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. | uk_UA |
| dc.description.abstract | The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 2225-5818 | |
| dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140696 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Технология и конструирование в электронной аппаратуре | |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
| dc.subject | Качество и надежность аппаратуры | uk_UA |
| dc.title | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ | uk_UA |
| dc.title.alternative | Аналіз та експериментальна апробація моделей відмовлень дефектних виробів електронної техніки | uk_UA |
| dc.title.alternative | The theoretical analysis and the experimental approbation of failures models of fault products of electronic technics | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: