Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок

dc.contributor.authorДушкин, С.А.
dc.contributor.authorИванский, В.Б.
dc.contributor.authorКуров, А.М.
dc.contributor.authorОдинец, В.А.
dc.contributor.authorОробинский, А.Н.
dc.date.accessioned2013-12-11T19:29:26Z
dc.date.available2013-12-11T19:29:26Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractРассчитаны погрешности при измерении средней энергии, коэффициента гомогенности, первого и второго слоя половинного ослабления рентгеновских установок. Проведено сравнение погрешностей с требованиями стандартов.uk_UA
dc.description.abstractНаведено вирази для розрахунку похибок при вимірюванні характеристик рентгенівських установок: середньої енергії, коефіцієнта гомогенності, першого та другого шару половинного послаблення (ШПО1, ШПО2). Проведено порівняння похибок при вимірюванні та розрахунку характеристик рентгенівської установки з вимогами до похибок характеристик стандартного рентгенівського випромінювання з вузьким спектром згідно ДСТУ ISО 4037-1:2006. Визначено критерії вибору товщини додаткових фільтрів для вимірювання ШПП1 та ШПП2. Уточнено похибки при розрахунку середньої енергії рентгенівського випромінювання та коефіцієнта гомогенності.uk_UA
dc.description.abstractExpressions for calculating the measurement errors of Xray devices features are given as follows: mean photon energy, homogeneity coefficient, the first and the second half-value layer (1st HVL, 2nd HVL). Comparison of errors is organized at measurement and calculation of features of X-ray installation with requirements to errors of standard X-ray radiation features with narrow spectrum on DSTU ISO 4037-1:2006. Criteria of choùûøòï the additional filters thickness for measurement 1st HVL and 2nd HVL are defined. The errors resulting from calculation of mean photon energy of X-ray radiation and homogeneity coefficient are specified.uk_UA
dc.identifier.citationПогрешности при измерении характеристик рентгеновских установок / С.А. Душкин, В.Б. Иванский, А.М. Куров, В.А. Одинец, А.Н. Оробинский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 44-49. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51824
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectМетрология. Стандартизацияuk_UA
dc.titleПогрешности при измерении характеристик рентгеновских установокuk_UA
dc.title.alternativeПохибки при вимірюванні характеристик рентгенівських установокuk_UA
dc.title.alternativeThe measurement errors of X-ray devices featuresuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
13-Dushkin.pdf
Розмір:
209.94 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: