Features of Light Scattering by Surface Fractal Structures

dc.contributor.authorSemchuk, O.Yu.
dc.contributor.authorVodopianov, D.L.
dc.contributor.authorKunitska, L.Yu.
dc.date.accessioned2015-02-10T19:19:13Z
dc.date.available2015-02-10T19:19:13Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractThe average coefficient of light scattering by surface fractal structures is calculated within the scope of the Kirchhoff’s method. Two-dimensional bandlimited Weierstrass function is used to simulate a scattering surface. On the basis of numerical calculations of average scattering coefficient, the scattering indicatrixes for various surfaces and incidence angles are calculated. The analysis of the indicatrixes leads to the following conclusions: the scattering is symmetric about the incidence plane; with the increase of surface calibration degree, the scattering pattern becomes more complicated; the greatest intensity of the scattered wave is observed along the mirror direction; there are other directions, in which the intensity bursts are observed.uk_UA
dc.description.abstractВ рамках Кирхгоффової методи розраховано середній коефіцієнт розсіяння світла поверхневими фрактальними структурами. Для моделювання розсіювальної поверхні використовувалася двовимірна, обмежена смугою Вейєрштрассова функція. Виконано чисельні розрахунки середнього коефіцієнта розсіяння та побудовано індикатриси розсіяння для різних типів поверхонь та кутів падіння. Аналіза індикатрис розсіяння призводить до наступних висновків: розсіяння є симетричним відносно площини падіння; зі збільшенням ступеня калібрування поверхні картина розсіяння ускладнюється; найбільша інтенсивність розсіяної хвилі спостерігається в дзеркальному напрямку і, крім того, існують напрямки, в яких спостерігаються сплески інтенсивности.uk_UA
dc.description.abstractВ рамках метода Кирхгофа рассчитан средний коэффициент рассеяния света поверхностными фрактальными структурами. Для моделирования рассеивающей поверхности использовалась двумерная, ограниченная полосой функция Вейерштрасса. Произведены численные расчеты среднего коэффициента рассеяния и построены индикатрисы рассеяния для различных поверхностей и углов падения. Анализ индикатрис рассеяния приводит к следующим заключениям: рассеяние является симметричным относительно плоскости падения; с увеличением степени калибровки поверхности картина рассеяния усложняется; наибольшая интенсивностьрассеянной волны наблюдается в зеркальном направлении и, кроме того, существуют другие направления, в которых наблюдаются всплески интенсивности.uk_UA
dc.identifier.citationFeatures of Light Scattering by Surface Fractal Structures / O.Yu. Semchuk, D.L. Vodopianov, L.Yu. Kunitska // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 3. — С. 793-801 . — Бібліогр.: 16 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1816-5230
dc.identifier.otherPACS numbers: 05.45.Df,41.20.Jb,42.25.-p,61.43.Hv,68.35.Ct,78.68.+m,81.70.Fy
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76535
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofНаносистеми, наноматеріали, нанотехнології
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleFeatures of Light Scattering by Surface Fractal Structuresuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
13-Semchuk.pdf
Розмір:
185.82 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: