Заряженные макрочастицы над жидким гелием

Abstract

Анализ свойств плазмы с макрочастицами (пылевой плазмы) при криогенных температурах привел нас к необходимости учесть эффекты конденсации гелия на этих частицах. Микронные частицы в насыщенном паре гелия покрыты пленкой жидкого гелия толщиной около 100 Å. Это ограничивает их электронный заряд, так как пленка гелия слабопроницаема для электронов. Исключением являются кластеры Cs, Rb и K, которые не смачиваются гелием.

Аналіз властивостей плазми з макрочастинками (пилової плазми) при кріогенних температурах привів нас до необхідності врахувати ефекти конденсації гелію на цих частинках. Мікронні частинки в насиченому парі гелію покриті плівкою рідкого гелію завтовшки близько 100 Å. Це обмежує їх електронний заряд, оскільки плівка гелію є слабопроникною для електронів. Виключенням є кластери Cs, Rb та K, які не змочуються гелієм.

The analysis of dusty plasma properties at cryogenic temperatures shows that it is necessary to take into account the condensation of helium on the plasma particles. The micron particles in the saturated helium vapor are covered by a liquid helium film of 100 Å thick. This leads to the limitation of electron charge of the particles, as the electrons can hardly penetrate such a film. The exceptions are Cs, Rb and K clusters as they are not wetted with helium.