Оптимизация режимов тепловой дефектоскопии теплозащитных покрытий

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСтороженко, В.А.
dc.contributor.authorМельник, С.И.
dc.contributor.authorЧумаков, А.Г.
dc.date.accessioned2016-03-26T18:58:34Z
dc.date.available2016-03-26T18:58:34Z
dc.date.issued2002
dc.description.abstractРассмотрена теплофизическая модель двухслойного теплозащитного покрытия с дефектами различных типов. Проведен сравнительный анализ схем проведения контроля. Решена задача оптимизации решения тепловой дефектоскопии покрытий. Предложены практические рекомендации по организации тепловизионного контроля теплозащитных покрытий.uk_UA
dc.description.abstractThe paper presents a thermophysical model of a two-layer thermal barrier coating with defects of various types. Comparative analysis of various schematics of control is given. The problem of optimization of the solution of thermal defectoscopy of coatings is solved. Practical recommendations are given on organizing thermovision control of thermal barrier coatings.uk_UA
dc.identifier.citationОптимизация режимов тепловой дефектоскопии теплозащитных покрытий / В.А. Стороженко, С.И. Мельник, А.Г. Чумаков // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2002. — № 3. — С. 31-34. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn0235-3474
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/97295
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofАвтоматическая сварка
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectНеразрушающий контрольuk_UA
dc.titleОптимизация режимов тепловой дефектоскопии теплозащитных покрытийuk_UA
dc.title.alternativeOptimisation of the modes of thermal flaw detection of thermal barrier coatingsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
08-Storozhenko.pdf
Розмір:
455.4 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Техническая диагностика и неразрушающий контроль, 2002, № 3