Физическая инженерия поверхности, 2010, № 1
Постійний URI цієї колекціїhttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/69644
ЗМІСТ
-
Титульная страница и содержание
Выровец И.И., Грицына В.И., Дудник С.Ф., Опалев О.А., Решетняк Е.Н., Стрельницкий В.Е.
Нанокристаллические алмазные CDV-пленки: структура, свойства и перспективы применения
Погребняк А.Д., Дробышевская А.А., Ильяшенко М.В., Кирик Г.В., Комаров Ф.Ф., Береснев В.М., Махмудов Н.А., Рузимов Ш.М., Шипиленко А.П., Тулеушев Ю.Ж.
Триботехнические, физико-механические свойства и термическая стабильность нано- и микрокомпозитных покрытий на основе Ti-Al-N
Андреев А.А., Соболь О.В., Горбань В.Ф., Столбовой В.А., Мамон В.В.
Исследование фазового состава, структуры и свойств многослойных вакуумно-дуговых нанокристаллических покрытий Ti-Mo-N
Багмут А.Г., Багмут И.А., Жучков В.А., Николайчук Г.П., Красников А.Н.
Нанодисперсные пленки, осажденные импульсным лазерным распылением комбинированных мишеней Ni-Au
Войтович С.А., Григорчак І.І., Матвіїв М.В.
Ієрархічна дублетно-матрична структура C‹FeS2› для Li+ та Mg++-інтеркаляційного струмоутворення
Гулямов Г., Шарибаев Н.Ю.
Температурная зависимость плотности поверхностных состояний, определенная с помощью нестационарной емкостной спектроскопии
Капустяник В.Б., Турко Б.І., Лубочкова Г.О., Серкіз Р.Я., Вознюк Д.Л., Лень Н.В., Васьків А.П.
Вивчення механізмів отримання наноструктур оксиду цинку з парової фази
Лунёв В.М., Немашкало О.В.
Адгезионные характеристики покрытий и методы их измерения
Абдурахманов Б.М., Олимов Л.О., Абдуразаков Ф.
Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
Павлов А.М.
Влияние процессов кластеризации в газах на скорость звука и его поглощение
Сычикова Я.А., Кидалов В.В., Сукач Г.А.
Формирование регулярной пористой структуры р-InP
Стервоедов А.Н., Береснев В.М., Сергеева Н.В.
Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок
Правила оформления рукописей