Calculated images of dislocations in crystals on section topograms

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

By means of numerical solution of the Takagi equations, modeling of X-ray topographic images of deformation fields of the dislocation loops and dislocation of different types. Diffraction images created by dislocations and dislocation loops of different size and spatial location are complicated and versatile in their thin structure.

Опис

Теми

Цитування

Calculated images of dislocations in crystals on section topograms / S.M. Novіkov, І.M. Fodchuk, D.G. Fedortsov, A.Ya. Struk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2010. — Т. 13, № 3. — С. 268-272. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced