The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
The elastic Green function and resolution function in Piezoresponse Force
Microscopy (PFM) of thin piezoelectric film capped on the rigid substrate are derived.
The extrinsic size effect on the resolution function is demonstrated.
Опис
Теми
Цитування
The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy / A.N. Morozovska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2008. — Т. 11, № 2. — С. 171-177. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.