Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
Scintillating CsI(Tl) films were obtained by vacuum deposition on single crystalline LiF substrates and non-orienting glass substrates. Their structure and morphology were examined by X-ray diffraction and scanning electron microscopy. Scintillation properties of films dependent on their structure are discussed.
Опис
Теми
Цитування
Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties / A. Ananenko, A. Fedorov, A. Lebedinsky, P. Mateychenko, V. Tarasov, Yu. Vidaj // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 297-300. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.