Residual error after non-uniformity correction

Завантаження...
Ескіз

Дата

Автори

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

The paper represents the technique for residual error evaluation after two-points linear non-uniformity correction. This technique takes into consideration parameters of an imaging system, reference sources, non-linearity and noise of a focal plane array.

Опис

Теми

Цитування

Residual error after non-uniformity correction / V.N. Borovytsky // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 1. — С. 102-105. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced