Optical studies of as-deposited and annealed Cu₇GeS₅I thin films

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

Cu₇GeS₅I thin films were obtained by non-reactive radio frequency magnetron sputtering onto silicate glass substrates. Optical transmission spectra of as-deposited and annealed Cu₇GeS₅I thin films were measured in the temperature interval 77–300 K. The temperature behaviour of Urbach absorption edge and dispersion of refractive index for as-deposited and annealed Cu₇GeS₅I thin films was analyzed. Influence of annealing on the optical parameters and disordering processes in Cu₇GeS₅I thin films was studied.

Опис

Теми

Цитування

Optical studies of as-deposited and annealed Cu₇GeS₅I thin films / I.P. Studenyak, A.V. Bendak, S.O. Rybak, V.Yu. Izai, P. Kúš, M. Mikula // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 2. — С. 192-196. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced