XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Анотація
Опис
Теми
Characterization and properties
Цитування
XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation / V.F. Tkachenko, O.A. Lukienko, A.T. Budnikov, E.A. Vovk, S.I. Krivonogov, A.Ya. Dan`ko // Functional Materials. — 2011. — Т. 18, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.