Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.
Опис
Теми
Материалы электроники
Цитування
Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.