Использование фотоприемных устройств в качестве контрольных для снижения погрешности измерений
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
Приведены результаты исследований метрологических характеристик методик измерений вольтовой чувствительности и обнаружительной способности фотоприемных устройств.
Опис
Теми
Функциональная микроэлектроника
Цитування
Использование фотоприемных устройств в качестве контрольных для снижения погрешности измерений / Б.М. Ницович, И.В. Докторович, В.Н. Годованюк, В.К. Бутенко, В.Г. Юрьев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 34-37. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.