Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorПопов, В.М.
dc.contributor.authorКлименко, А.С.
dc.contributor.authorПоканевич, А.П.
dc.contributor.authorСамотовка, В.Л.
dc.date.accessioned2013-12-14T01:11:54Z
dc.date.available2013-12-14T01:11:54Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractМетод основан на использовании визуального отображения в поляризационном микроскопе локально нагретых областей в пленке холестерического жидкого кристалла на поверхности кристалла интегральной схемы.uk_UA
dc.description.abstractЗапропоновано метод візуального відображення температури поверхні кристала інтегральної схеми (ІС) в плівці холестеричного рідкого кристала, осадженій на поверхню із розчину. Границі локальних областей є ізотермами з температурами відповідних фазових переходів. По положенню ізотерм і потужності, яку споживає кристал ІС, визначаються теплові опори між поверхнею і середовищем.uk_UA
dc.description.abstractMethod for visualization of integrated circuit (IC) surface temperature by means of the liquid crystal film deposited from solution on its surface is proposed. The boundaries of local regions represent isotherms with corresponding phase transitions. On the base of isotherms positions and consumed by IC power thermal resistances between crystal and environment are determined.uk_UA
dc.identifier.citationМетод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич, В.Л. Самотовка // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 30-34. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.udc621-382
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51864
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectТехнологические процессы и оборудованиеuk_UA
dc.titleМетод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемыuk_UA
dc.title.alternativeМетод визначення температури та теплового опору точок поверхні кристала інтегральної схемиuk_UA
dc.title.alternativeMethod of determination of temperature and heat resistance of the points on the integrated circuit crystal surfaceuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
08-Popov.pdf
Розмір:
340.07 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2011, № 6