Zero bias terahertz and subterahertz detector operating at room temperature

dc.contributor.authorMomot, N.
dc.contributor.authorZabudsky, V.
dc.contributor.authorTsybrii, Z.
dc.contributor.authorApats’ka, M.
dc.contributor.authorSmoliy, M.
dc.contributor.authorDmytruk, N.
dc.date.accessioned2017-05-29T13:15:32Z
dc.date.available2017-05-29T13:15:32Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractIn this paper, the experimental study of the terahertz and subterahertz hot electron bolometer based on narrow-gap semiconductor compound Hg₁₋xCdxTe is presented. The measurements were performed in the temperature range from 77 to 300 K at various operating mode and frequency. The estimated value of the noise equivalent power at room temperature for detector proposed was 1.3·10⁻⁸ W/Hz¹/² and 5.4·10⁻⁹ W/Hz¹/² at bias current I = 1 mA and I = 0, respectively.uk_UA
dc.identifier.citationZero bias terahertz and subterahertz detector operating/ N. Momot, V. Zabudsky, Z. Tsybrii, M. Apats'ka, M. Smoliy, N. Dmytruk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2010. — Т. 13, № 2. — С. 166-169. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. at room temperatureuk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS 07.57.Kp, 72.20.Ht
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118225
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleZero bias terahertz and subterahertz detector operating at room temperatureuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
11-Momot.pdf
Розмір:
295.65 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: