Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
Завантаження...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования.
Опис
Теми
Технологические процессы и оборудование
Цитування
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.