Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

dc.contributor.authorПопов, В.М.
dc.contributor.authorКлименко, А.С.
dc.contributor.authorПоканевич, А.П.
dc.date.accessioned2014-01-01T17:45:49Z
dc.date.available2014-01-01T17:45:49Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractРазработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования.uk_UA
dc.identifier.citationУсовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectТехнологические процессы и оборудованиеuk_UA
dc.titleУсовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроникиuk_UA
dc.title.alternativeУдосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектронікиuk_UA
dc.title.alternativeImproved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devicesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
13-Popov.pdf
Розмір:
386.16 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: