Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
| dc.contributor.author | Попов, В.М. | |
| dc.contributor.author | Клименко, А.С. | |
| dc.contributor.author | Поканевич, А.П. | |
| dc.date.accessioned | 2014-01-01T17:45:49Z | |
| dc.date.available | 2014-01-01T17:45:49Z | |
| dc.date.issued | 2008 | |
| dc.description.abstract | Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 2225-5818 | |
| dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Технология и конструирование в электронной аппаратуре | |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
| dc.subject | Технологические процессы и оборудование | uk_UA |
| dc.title | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники | uk_UA |
| dc.title.alternative | Удосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектроніки | uk_UA |
| dc.title.alternative | Improved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devices | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: