Analysis of luminescence method for determination of Cd₁₋xZnxTe composition

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorGlinchuk, K.D.
dc.contributor.authorLitovchenko, N.M.
dc.contributor.authorProkhorovich, A.V.
dc.contributor.authorStrilchuk, O.N.
dc.date.accessioned2017-06-13T11:15:30Z
dc.date.available2017-06-13T11:15:30Z
dc.date.issued2005
dc.description.abstractA detailed analysis of the method for determination of Cd₁₋xZnxTe composition x from measurements of 4.2 K peak position of the emission band induced by annihilation of excitons bound with neutral shallow acceptors is given. Found are the conditions fulfillment of which permits to obtain reliable x values by the above luminescence method.uk_UA
dc.identifier.citationAnalysis of luminescence method for determination of Cd₁₋xZnxTe composition / K.D. Glinchuk, N.M. Litovchenko, A.V. Prokhorovich, O.N. Strilchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2005. — Т. 8, № 3. — С. 39-44. — Бібліогр.: 18 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS 78.55.-m; 78.55.Et
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120964
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleAnalysis of luminescence method for determination of Cd₁₋xZnxTe compositionuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
07-Glinchuk.pdf
Розмір:
170.77 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005, № 3