Dielectric relaxation in Se₈₀Ge₂₀ and Se₇₅Ge₂₀Ag₅ chalcogenide glasses

dc.contributor.authorDwivedi, A.
dc.contributor.authorArora, R.
dc.contributor.authorMehta, N.
dc.contributor.authorChoudhary, N.
dc.contributor.authorKumar, A.
dc.date.accessioned2017-06-13T11:13:36Z
dc.date.available2017-06-13T11:13:36Z
dc.date.issued2005
dc.description.abstractTemperature and frequency dependence of dielectric constant (ε') and dielectric loss (ε") are studied in glassy Se₈₀Ge₂₀ and Se₇₅Ge₂₀Ag₅. The measurements have been made in the frequency range (1 to 10 kHz) and in the temperature range 300 to 395 K. No dielectric dispersion is observed in glassy Se80Ge20. However, the results indicate that the dielectric dispersion exists in Se₇₅Ge₂₀Ag₅ in the above frequency and temperature range. An analysis of the dielectric loss data shows that the Guintini theory of dielectric dispersion based on two electron hopping over a potential barrier is applicable in the present case.uk_UA
dc.identifier.citationDielectric relaxation in Se₈₀Ge₂₀ and Se₇₅Ge₂₀Ag₅ chalcogenide glasses / A. Dwivedi, R. Arora, N. Mehta, N. Choudhary, A. Kumar // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2005. — Т. 8, № 3. — С. 45-49. — Бібліогр.: 34 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS: 72.80 Ng
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120963
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleDielectric relaxation in Se₈₀Ge₂₀ and Se₇₅Ge₂₀Ag₅ chalcogenide glassesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
08-Dwivedi.pdf
Розмір:
182.85 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: