Investigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopy

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorBerezhinsky, L.I.
dc.contributor.authorYukhymchuk, V.A.
dc.contributor.authorMaslov, V.P.
dc.contributor.authorTetyorkin, V.V.
dc.date.accessioned2017-06-15T03:49:52Z
dc.date.available2017-06-15T03:49:52Z
dc.date.issued2005
dc.description.abstractThe interface of ZERODUR ceramics and thin aluminium film was investigated by Raman and secondary ion mass-spectroscopy techniques. Possible chemical reactions at the interface is briefly analyzed and compared with experimental data. Contributions of amorphous and crystalline phases of ZERODUR to Raman spectra are discussed. Keywords: ZERODUR ceramics, Raman spectra, secondary ion mass-spectroscopy. Manuscript received 19.04.05; accepted for publication 18.05.05.uk_UA
dc.identifier.citationInvestigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopy / L.I. Berezhinsky, V.P. Maslov V.V. Tetyorkin and V.A.Yukhymchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2005. — Т. 8, № 2. — С. 37-40. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS: 78.30.L
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121644
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleInvestigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopyuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
08-Berezhinsky.pdf
Розмір:
224.22 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005, № 2