Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2009, № 5

ЗМІСТ

Титульные страницы и содержание

НОВЫЕ КОМПОНЕНТЫ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ

Семёнов А.А., Усанов Д.А.
Индуктивность, перестраиваемая электрическим полем

ЭЛЕКТРОННЫЕ СРЕДСТВА: ИССЛЕДОВАНИЯ, РАЗРАБОТКИ

Браиловский В.В., Верига А.Д., Политанский Л.Ф.
Гибридный автодинный сенсор магнитного резонанса

Бутенко В.К., Добровольский Ю.Г., Шабашкевич Б.Г., Юрьев В.Г.
Установка для измерения удельного коэффициента силы света материалов со световозвращающим эффектом

СИСТЕМЫ ПЕРЕДАЧИ И ОБРАБОТКИ СИГНАЛОВ

Гришин И.Ю.
Оптимизация процесса поиска неизвестного количества движущихся объектов

СЕНСОЭЛЕКТРОНИКА

Рубцевич И.И., Высоцкий В.Б., Ковальчук Н.С.
Оптимизация конструкции мембранных датчиков

ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКА

Дружинин А.А., Голота В.И., Когут И.Т., Ховерко Ю.Н.
Разработка схемы и топологии элементов матрицы управляемых автоэмиссионных кремниевых микрокатодов

Горев Н.Б., Коджеспирова И.Ф., Привалов Е.Н.
Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs

Бобренко Ю.Н., Ярошенко Н.В., Шереметова Г.И., Семикина Т.В., Атдаев Б.С.
Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS

Кудрик Я.Я.
Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя

ОБЕСПЕЧЕНИЕ ТЕПЛОВЫХ РЕЖИМОВ

Зайков В.П., Киншова Л.А., Казанжи Л.Д., Храмова Л.Ф.
Прогнозирование показателей надежности двухкаскадного термоэлектрического охлаждающего устройства в режиме Q_0max

ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ И ОБОРУДОВАНИЕ

Каримов А.В., Ёдгорова Д.М., Якубов Э.Н.
Корреляция параметров арсенид-галлиевых эпитаксиальных слоев и технологии их выращивания

Спирин В.Г.
Исследование погрешности сопротивления тонкопленочного резистора

Болтовец Н.С., Борисенко А.Г., Иванов В.Н., Федорович О.А., Кривуца В.А., Полозов Б.П.
Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления

МАТЕРИАЛЫ ЭЛЕКТРОНИКИ

Коваленко К.Л., Шаран Н.Н., Севастьянов В.В.
Наноструктурированная композитная пленка для сенсоров влажности

Дмитриев М.В., Еримичой И.Н., Панов Л.И.
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике

МЕТРОЛОГИЯ. СТАНДАРТИЗАЦИЯ

Криваль И.И., Скрипнюк А.И., Проценко В.А., Марьенко А.В.
Малогабаритные цифровые частотомеры сверхвысокочастотного диапазона

БИБЛИОГРАФИЯ

Новые книги
В портфеле редакции

*****
Выставки. Конференции