Metrological support of satellite-borne UV-spectrometry using a backscattering technique
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
Methods and physicotechnical facilities for examination, calibration and metrological testing of the main power spectral characteristics (total spectral sensitivity, scattered stray radiation, dynamic range) of the vehicle-borne ozone UV spectrometers in the spectral range 250-350 nm are considered.
Опис
Теми
Цитування
Metrological support of satellite-borne UV-spectrometry using a backscattering technique / V. Vashchenko, Zh. Patlashenko, E. Chernysh // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 1. — С. 105-107. — Бібліогр.: 10 назв. — англ.