ЗМІСТ

Титульные страницы и содержание

НАУЧНЫЕ ЦЕНТРЫ СНГ

Бондаренко М.Ф.
Харьковский государственный технический университет радиоэлектроники

ТЕХНИЧЕСКАЯ ПОЛИТИКА

Высоцкий Б.Ф., Корниенко Ю.Н., Назаров А.С.
Возможности унифицированного микроэлектронного субблока КВЧ

ПРОЕКТИРОВАНИЕ. КОНСТРУИРОВАНИЕ

Шайко-Шайковский А.Г.
Определение допустимых значений характеристик материалов при проектировании РЭА

СИСТЕМЫ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ

Лейбман А.М.
Использование пакета программ Touchstone и Academy фирмы EEsof при проектировании элементов и устройств СВЧ и КВЧ

ОБЕСПЕЧЕНИЕ ТЕПЛОВЫХ РЕЖИМОВ АППАРАТУРЫ

Спокойный Ю.Е., Трофимов В.Е., Олибаш Г.В.
Проектирование радиаторов для ИС со струйным импактным воздушным охлаждением

Заславский В.М.
Моделирование процессов теплопереноса в сублимационном охладителе

НЕСУЩИЕ КОНСТРУКЦИИ

Ефименко А.А., Ткаченко В.Б.
Методика расчета линейных размерных цепей несущих конструкций РЭС

ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ

Емельянов В.А., Ланин В.Л., Ласточкина В.Ф.
Термозвуковая разварка межсоединений золотой проволокой на медных рамках

Лопаткин А.В., Лощилова В.И.
Модернизация генератора изображений ЭМ-559 БМ

КАЧЕСТВО И НАДЕЖНОСТЬ АППАРАТУРЫ

Ленков С.В., Зубарев В.В., Лавренова Т.И., Тариелашвили Г.Т., Фишер З.А.
Определение оптимальной продолжительности и режимов технологических тренировочных прогонов РЭА

Вершинина Л.П.
Оптимизация операций сортировки в производстве компонентов электронных устройств

МАТЕРИАЛЫ ДЛЯ КОМПОНЕНТОВ

Костенко С.П.
Механизмы управляемого структурообразования поверхностей слоев Pd-Ag при облучении α-частицами

Губа С.К.
Низкотемпературный изотермический метод хлоридной эпитаксии In_1-xGa_xAs

Дмитриев М.В.
Влияние концентрации компонентов и пор на электросопротивление стеклокерамики

СИМПОЗИУМЫ. КОНФЕРЕНЦИИ. ВЫСТАВКИ

Костенко С.П.
ТЕЛЕКОМ-98: остановиться, оглядеться

ДЕПОНИРОВАННЫЕ РУКОПИСИ

Новосядлый С.П.
Технология локальной изоляции активных элементов больших интегральных схем

Новосядлый С.П.
Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС