Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2007, № 4

ЗМІСТ

Титульные страницы и содержание

ТЕХНИЧЕСКАЯ ПОЛИТИКА

Грудзинский Э.М., Дуб П.Б., Ничога В.А., Самсонюк О.В.
Проблемы применения аппаратурных средств для экологического мониторинга техногенных электромагнитных полей

Наумов А.В.
Еще раз о развитии солнечной энергетики и рынке кремниевого сырья в 2007—2010 гг.

ЭЛЕКТРОННЫЕ СРЕДСТВА: ИССЛЕДОВАНИЯ, РАЗРАБОТКИ

Шарапов В.М., Гуржий А.Н., Филимонов С.А.
Трехкоординатный пьезокерамический сканер на биморфных пьезо-элементах для зондового наномикроскопа

СЕНСОЭЛЕКТРОНИКА

Алтухов А.А., Митягин А.Ю., Шустров А.В.
«Электронный нос» на основе матрицы элементарных полупроводниковых резистивных сенсоров

Лопин А.В., Семёнов А.В., Пузиков В.М.
Оптический датчик температуры на основе нанокристаллической пленки SiC

ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКА

Каримов А.В., Ёдгорова Д.М., Гиясова Ф.А., Азимов Т.М., Бузруков У.М., Якубов А.А.
Особенности фотоэлектрических характеристик фотоэлектропреобразовательных структур

Алтухов А.А., Митягин А.Ю., Горохов Е.В., Фещенко В.С., Талипов Н.Х.
Алмазные фотоприемники ультрафиолетового диапазона

ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ И ОБОРУДОВАНИЕ

Глушко А.А., Родионов И.А., Макарчук В.В.
Моделирование технологии изготовления субмикронных КМОП СБИС с помощью систем TCAD

Ащеулов А.А., Величук Д.Д., Романюк И.С.
Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье

Боровицкий В.Н.
Вычисление дифракционной составляющей глубины резко изображаемого пространства в оптическом микроскопе

МАТЕРИАЛЫ ЭЛЕКТРОНИКИ

Самойлович М.И., Белянин А.Ф., Илюшечкин А.Ю.
Строение и высокотемпературная сверхпроводимость пленок Bi₂Sr₂CaCu₂O_y

МЕТРОЛОГИЯ. СТАНДАРТИЗАЦИЯ

Ефименко А.А., Васильева Л.П., Ткаченко О.Р.
Оформление конструкторской документации на печатные платы в условиях автоматизированного проектирования и подготовки производства

БИБЛИОГРАФИЯ

Новые книги
В портфеле редакции

*****
Выставки. Конференции