Наука та інновації, 2012, № 2
Постійний URI цієї колекціїhttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114184
ЗМIСТ
СВІТ ІННОВАЦІЙ-
Міжнародний інноваційний форум країн СНД – 2011
Лисенко О.Г.
Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
Фирстов С.А., Даниленко Н.И.
Механическая подготовка объектов для электронно-микроскопических исследований
Сторижко В.Е., Мирошниченко В.И., Пономарев А.Г.
Изготовление микро- и наноразмерных структур с применением протонной пучковой литографии: современное состояние и перспективы развития
Петров Ю.В.
Сканирующий ионный гелиевый микроскоп
Pugatch V.M.
Position Sensitive Micro-Strip and Micro-Pixel Detectors
Чапон П., Костенко О.К.
Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™
Держипольский А.Г., Меленевский Д.А.
Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого
Brescia P., Banks P., Voloshin А.
Multi-Volume Analysis of Nucleic Acids Using the EPOCH™ Spectrophotometer System
Сухомлинов А.Б.
Новое оборудование японской корпорации SHIMADZU для исследовательских лабораторий
Верцанова Е.В.
Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий
Есауленко А.Н., Выпирайленко А.В., Гринченко М.Н.
Новые приборы компании AGILENT TECHNOLOGIES для научных исследований
Артемьева И.Н., Романов С.Н.
Оборудование компании INTERTECH CORPORATION для лабораторного анализа и научных исследований
Компания LECO. 75 лет на мировом рынке аналитического оборудования
Системы ELECTROPULS – электродинамические испытательные машины будущего